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- 范雄主编 著
- 出版社: 北京:机械工业出版社
- ISBN:15033·5060
- 出版时间:1981
- 标注页数:284页
- 文件大小:14MB
- 文件页数:290页
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图书目录
目录1
第一章 X射线物理学基础5
§1-1X射线的产生及其性质5
§1-2X射线谱7
§1-3X射线的散射13
§1-4X射线的衰减16
第二章 布拉格方程与粉末照相20
§2-1X射线在晶体中的衍射20
§2-2布拉格方程20
§2-3X射线衍射方法22
§2-4粉末照相法23
第三章 衍射原理与分析30
§3-1晶体学基本知识30
§3-2衍射的基本方程式(劳埃方程式)36
§3-3简单点阵的衍射分析41
§3-4复杂点阵的衍射分折42
第四章 衍射强度及衍射仪51
X射线衍射强度51
§4-1多晶体衍射强度的概念51
§4-2结构因数及原子散射因数52
§4-3多重性因数54
§4-4角因数55
§4-5吸收因数58
§4-6温度因数60
§4-7衍射强度的计算62
§4-8衍射强度的测量64
§4-10X射线光学布置65
X射线衍射仪65
§4-9一般介绍65
§4-11计数器67
§4-12定标器与计数率仪71
§4-13衍射线强度的计算与测量73
§4-14衍射仪法与照相法的比较74
§4-15实验参数的选择75
第五章 点阵参数的精确测定77
§5-1一般考虑77
§5-2误差的来源79
§5-3用精密实验方法消除误差82
§5-4用图解法消除误差84
§5-5用最小二乘方法(柯亨法)消除误差86
§5-6其它照相法88
§5-7用标准样对比消除误差92
§5-8用衍射仪法测定点阵参数94
§5-9点阵参数精确测定的应用95
第六章 物相分析98
§6-1物相定性分析的特点,荧光X射线分析简介98
§6-2定性分析的原理及方法99
§63定性分析中的一些问题107
§6-4定量分析基本原理110
§6-5单线条法111
§6-6内标法113
§6-7K值法及绝热法114
§6-9等强线对法118
§6-8直接对比法118
第七章 宏观应力测定121
§7-1引言121
§7-2应力测定原理122
§7-3测试方法与参数126
§7-4应力测定中的其它问题133
第八章 晶粒大小及微观应力的测定139
§8-1晶粒大小在10-3~10-2厘水(10~100微米)时的测定方法139
§8-2晶粒大小在10-5~10-7厘米范围内的测定方法141
§8-3微观应力(第二类内应力)引起线条真实宽化的理论147
§8-4测定晶块尺寸与微观应力的实验程序150
第九章 倒易点阵与单晶体分析法163
§9-1倒易点阵基础163
§9-2晶体投影法170
§9-3劳埃法178
§9-4周转晶体法185
第十章 织构测定193
§10-1引言193
§10-2用照相法测定金属丝织构193
§10-3多晶体极图198
§10-4用照相法测定金属板织构200
§10-5用衍射仪法测定金属板织构204
§10-6反极图207
结语209
实验指导书212
实验一 X射线晶体分析仪与粉末照相212
实验二 立方晶系单相物质粉末相的指标化(计算法)221
实验三 利用X射线衍射仪进行多相物质的相分析231
实验四 用直接对比法测定淬火钢中残余奥氏体含量239
实验五 淬火钢的宏观应力测定244
实验六 用劳埃法测定单晶体的取向251
附录259
附录1 物理常数259
附录2 元素的特征发射谱线及吸收限波长,埃259
附录3 质量吸收系数μ1/ρ及密度ρ261
附录4 滤波片选用表263
附录5 立方晶系的HKL和sin2θi/sin2θ1值263
附录6 粉末试样经验冲淡数据266
附录7 原子散射因数f267
附录8 原子散射因数在吸收限近旁的减小值△f269
附录9 各种点阵的结构因数F2HKL270
附录10 粉末法的多重性因数Phkl270
附录11 角因数1+cos22θ/sin2θcosθ271
附录12 圆柱粉末试样的吸收因数μ1R272
附录13 德拜函数φ(x)/x+1/之值274
附录14 德拜-瓦洛温度因数?=e-M274
附录15 某些物质的特征温度Θ275
附录16 cos2θ的数值275
附录17 1/2(cos2θ/sinθ+cos2/θ)的数值276
附录18 sin2θ的数值277
附录19 Kα双重线分离度(θα2-θα1)279
附录20 立方系晶面间夹角280
附录21 元素的物理性质283
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