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第一章 电子技术实验基础1

1.1 电子技术实验的目的与意义1

1.2 电子技术基础实验的一般要求1

1.3 测量误差分析及结果处理2

1.3.1 测量误差的来源及分类2

1.3.2 误差的表示方法3

1.3.3 测量结果的处理5

1.4 测量的基本方法及电子电路中的常测量7

1.4.1 测量的基本方法概述7

1.4.2 电子电路中的常测量9

1.5 电子电路故障检测的一般方法10

1.5.1 故障现象及产生故障的原因11

1.5.2 检查故障的一般方法11

1.6 电子电路干扰的抑制13

1.6.1 干扰源13

1.6.2 干扰途径及其抑制方法13

1.7 电子技术安全用电14

1.7.1 触电对人体的危害14

1.7.2 安全电压14

1.7.3 触电引起伤害的因素14

1.7.4 触电原因15

1.7.5 安全用电常识16

第二章 常用电子元器件17

2.1 电阻器和电位器17

2.1.1 电阻器的分类与识别17

2.1.2 电位器的分类与识别20

2.2 电容器21

2.3 电感器和变压器25

2.3.1 电感线圈25

2.3.2 变压器26

2.4 半导体器件27

2.4.1 常用半导体分立器件27

2.4.2 半导体器件的命名方法28

2.4.3 半导体器件的常用参数31

2.5 集成电路37

第三章 电子技术实验常用仪表41

3.1 数字万用表41

3.1.1 数字万用表的主要技术参数41

3.1.2 数字万用表的操作42

3.2 YB1615型函数信号发生器／计数器45

3.2.1 YB1615型函数信号发生器／计数器的主要技术数据45

3.2.2 YB1615型函数信号发生器／计数器的操作45

3.3 SX2172型交流毫伏表47

3.3.1 SX2172型交流毫伏表的主要技术参数47

3.3.2 SX2172型交流毫伏表的操作47

3.4 COS5020BF型双踪示波器48

3.4.1 COS5020BF型双踪示波器的主要技术参数48

3.4.2 COS5020BF型双踪示波器的操作51

3.5 DF4810型晶体管特性图示仪55

3.5.1 DF4810型晶体管特性图示仪的主要技术参数55

3.5.2 DF4810型晶体管特性图示仪的操作56

第四章 模拟电子技术基础实验61

实验一 常用电子仪器的使用61

实验二 晶体管单管共射交流放大器66

实验三 射极跟随器73

实验四 差动放大器77

实验五 负反馈放大器81

实验六 集成运算放大器的基本应用（Ⅰ）——模拟运算电路84

实验七 RC正弦波振荡器89

实验八 集成运算放大器的基本应用（Ⅱ）——电压比较器92

实验九 低频OTL功率放大器95

实验十 直流稳压电源（集成稳压器）99

第五章 数字电子技术基础实验106

实验一 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试106

实验二 组合逻辑电路的设计与测试111

实验三 译码器及其应用113

实验四 数据选择器及其应用119

实验五 触发器及其应用124

实验六 计数器及其应用131

实验七 移位寄存器及其应用136

实验八 使用门电路产生脉冲信号——自激多谐振荡器142

实验九 单稳态触发器与施密特触发器——脉冲延时与波形整形电路145

实验十 555时基电路及其应用152

第六章 Multisim及其仿真应用简介159

6.1 概述159

6.2 Multisim 7简介159

6.2.1 Multisim 7的界面160

6.2.2 Multisim 7常用虚拟仪器165

6.2.3 Multisim 7的基本分析方法170

6.3 Multisim 7的基本使用方法及仿真实例175

参考文献179