数据域测试及仪器 数字系统的故障诊断及可测性设计 第3版2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载

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绪论1

一、测试技术的新领域1

二、数据域测试的基本方法2

三、计算机辅助测试3

四、可测性和内测试4

五、数据域测试仪器5

第一章　数据域测试的基本概念7

第一节　数字系统的测试7

一、数字系统测试的必要性和复杂性7

二、故障模型与测试9

三、故障冗余12

四、完备测试集与故障等价13

五、测试矢量的产生14

六、测试响应的观测15

七、复杂系统的分级测试15

第二节　穷举测试法16

一、单输出无扇出电路16

二、带汇聚扇出的单输出电路19

三、各输出不依赖于全部输入的多输出电路22

第三节　故障表方法23

一、固定式列表计划侦查23

二、固定计划定位24

三、适应性计划侦查和定位27

习题33

第二章　组合逻辑电路的测试35

第一节　通路敏化35

一、敏化通路35

二、通路敏化法36

三、关于一维敏化的讨论38

四、多维敏化40

第二节　d算法41

一、d算法的基础知识41

二、d算法的基本步骤43

三、d算法举例44

四、扩展d算法49

五、关于多故障的讨论54

第三节　临界通路法55

第四节　布尔差分法56

一、布尔差分的基本概念56

二、布尔差分的特性56

三、求布尔差分的方法57

四、单故障的测试58

五、多重故障的测试64

六、主路径敏化法66

第五节　故障字典68

习题69

第三章　时序逻辑电路的测试73

第一节　迭接电路法73

一、基本思想73

二、同步时序电路的组合迭接74

三、异步时序电路的组合迭接76

第二节　时序故障表法79

一、故障侦查79

二、故障定位86

第三节　状态变迁检查法87

一、初始状态的设置88

二、状态的识别91

三、故障的测试92

四、区分序列的存在性93

第四节　时延测试95

一、DPmax的测试96

二、电路-时间方程97

习题100

第一节　存储器的测试105

一、RAM中的故障类型105

第四章　微机系统的测试105

二、测试的若干原则性考虑106

三、存储器测试方法107

四、方法的比较113

第二节　微处理器的测试115

一、μP的算法产生测试115

二、μP功能性测试的一般方法117

三、μP功能性测试的系统图方法122

第三节　利用被测系统的应用程序进行测试124

一、基本概念125

二、应用程序的模型化125

三、关系图126

四、测试的组织129

五、通路测试的算法131

第四节　利用总线观察进行测试134

习题135

第五章　数字系统的计算机辅助测试136

第一节　计算机辅助测试的基本概念136

一、概述136

二、CAT的结构模型136

三、测试算法137

四、逻辑和功能描述138

一、DALG-Ⅱ程序139

第二节　d算法程序139

六、输出139

五、数据库139

二、实用中的具体问题142

第三节　扩展d算法程序143

一、系统结构143

二、SXMS测试码自动生成系统144

三、SXMDIAG故障测试系统148

第四节　PODEM算法150

一、基本概念152

第五节　微处理器测试产生程序152

二、RTL语言简介153

三、测试码的生成154

第六节　故障模拟158

一、基本概念158

二、故障模拟方法159

三、并行模拟159

四、演绎模拟161

五、同时故障模拟163

习题164

第六章　可测性设计165

一、基本定义166

第一节　可测性的测度166

二、标准单元的可测性分析167

三、可控性和可观测性的计算170

第二节　可测性设计方法171

一、可测性的改善设计171

二、结构可测性设计173

三、其他可测试性设计方法简介177

第三节　组合电路的异或门串联结构179

一、Reed-Muller展开式179

二、异或门串联电路结构测试分析181

第四节　内测试设计182

一、多位线性反馈移位寄存器183

二、伪随机数发生器185

三、特征分析器186

四、内测试电路设计188

第五节　边缘扫描技术191

一、JTAG边缘扫描可测性设计的结构191

二、工作方式193

三、边缘扫描单元的级连195

四、JTAG应用举例195

五、JTAG的特点197

习题197

一、数字信号发生器的作用199

第一节　数字信号发生器199

第七章　数据域测试仪器199

二、数字信号发生器的结构200

三、数据的产生201

四、数据流的特征201

五、数字信号发生器的主要技术指标205

第二节　特征分析仪209

一、特征分析仪的基本原理209

二、特征分析仪的故障侦出率210

三、特征分析仪的基本结构213

四、特征分析仪的工作213

五、“特征”设计219

一、逻辑分析仪的特点及其主要技术指标221

第三节　逻辑分析仪221

二、逻辑分析仪的基本结构224

三、数据捕获224

四、数据显示233

五、应用238

第四节　GP-IB母线分析仪248

一、概述248

二、母线分析仪的作用和功能249

三、HP-59401A母线分析仪的内部组织251

四、国产母线分析仪举例253

一、规约分析仪的原理256

第五节　规约分析仪256

二、规约分析仪的基本结构257

三、规约分析仪的技术指标258

四、规约分析仪的应用与分类259

第六节　数字传输测试260

一、数字传输测试的基本概念260

二、数据通信传输测试265

三、PDH传输测试及仪器267

四、SDH传输测试269

第七节　数字通信测试274

一、数字通信测试的基本概念274

二、矢量信号发生器275

三、矢量信号分析仪280

第八节　开发系统282

一、概述282

二、开发系统的基本结构283

三、仿真器284

四、简易开发系统293

五、通用开发系统294

六、HP64000逻辑开发系统简介299

习题301

参考文献302