图书介绍

半导体器件的可靠性 第4集2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载

半导体器件的可靠性 第4集
  • 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 著
  • 出版社： 北京：科学技术文献出版社；重庆分社
  • ISBN：15176·132
  • 出版时间：1977
  • 标注页数：99页
  • 文件大小：33MB
  • 文件页数：102页
  • 主题词：

PDF下载


点此进入-本书在线PDF格式电子书下载【推荐-云解压-方便快捷】直接下载PDF格式图书。移动端-PC端通用
种子下载[BT下载速度快]温馨提示：（请使用BT下载软件FDM进行下载）软件下载地址页直链下载[便捷但速度慢]  [在线试读本书]   [在线获取解压码]
点击复制MD5值：0fc58ef71687a5a74e79e8ce917dd905

下载说明

半导体器件的可靠性 第4集PDF格式电子书版下载

下载的文件为RAR压缩包。需要使用解压软件进行解压得到PDF格式图书。

点击复制85GB完整离线版磁力链接到迅雷FDM等BT下载工具进行下载  详情点击-查看共享计划
建议使用BT下载工具Free Download Manager进行下载,简称FDM(免费,没有广告,支持多平台）。本站资源全部打包为BT种子。所以需要使用专业的BT下载软件进行下载。如BitComet qBittorrent uTorrent等BT下载工具。迅雷目前由于本站不是热门资源。不推荐使用！后期资源热门了。安装了迅雷也可以迅雷进行下载！

（文件页数 要大于 标注页数，上中下等多册电子书除外）

注意：本站所有压缩包均有解压码： 点击下载压缩包解压工具

图书目录

目 录1

电子学中的电迁移和失效：引言1

失效分析（综述）9

SiO2膜中的电击穿机理11

使用俄歇能谱学和其它先进分析技术来分析微电子材料20

采用质子束对表面的分析23

用电子探针微分析器对半导体的观察29

互连和微型接头的无损测试（总结报告）37

利用扫描电子显微镜测量p-n结深度51

扫描电子显微镜在半导体器件中的应用53

扫描电子显微镜在半导体器件的薄膜研究中的应用68

离子微探针在半导体失效分析中的应用73

硅中电活性杂质沉积缺陷的电子显微镜研究75

中规模集成数字逻辑阵列87

限制大规模集成电路性能和可靠性的材料和界面因素89

热门推荐