图书介绍

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测控技术与虚拟仪器
  • 柳爱利,周绍磊编著 著
  • 出版社: 北京:电子工业出版社
  • ISBN:9787121261558
  • 出版时间:2015
  • 标注页数:181页
  • 文件大小:25MB
  • 文件页数:191页
  • 主题词:测量系统-控制系统

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图书目录

第1章 概述1

1.1测控系统的体系结构1

1.2现代测控系统的特征2

1.3现代测控系统中的虚拟仪器4

1.3.1虚拟仪器的特点4

1.3.2虚拟仪器的总线形式5

1.3.3虚拟仪器的软件6

1.4本书的内容7

第2章 信号采集与分析8

2.1引言8

2.2时域采样与时域采样定理8

2.2.1时域采样8

2.2.2时域采样定理11

2.2.3信号复原12

2.3信号处理中基本的数学变换14

2.3.1傅里叶级数14

2.3.2傅里叶变换14

2.3.3拉普拉斯变换15

2.3.4离散时间信号的傅里叶变换15

2.3.5离散傅里叶级数16

2.3.6 Z变换16

2.4信号的频域分析16

2.4.1周期信号的谱分析17

2.4.2能量有限信号的频谱分析18

2.4.3功率有限信号的频谱分析19

2.4.4功率谱分析方法的有效性判别21

2.4.5经典谱分析与现代谱分析22

2.4.6 ARMA模型分析方法23

2.5基于小波的信号处理27

2.5.1小波变换的基本概念28

2.5.2常用小波函数29

2.5.3小波包分析30

2.6信号滤波技术32

2.6.1连续时间信号的滤波33

2.6.2离散时间信号的滤波33

2.6.3连续时间信号的数字处理34

2.6.4均衡与补偿技术35

2.6.5插值与选抽滤波36

2.6.6频偏问题与希尔伯特变换38

2.6.7自适应滤波40

2.6.8通道串扰问题与解耦滤波41

2.7相关函数和相关检测42

第3章 测控系统的接口总线47

3.1引言47

3.2 RS-232C总线48

3.2.1接口信号48

3.2.2电气特性49

3.2.3 RS-232C总线连接系统49

3.3 IEEE 488总线51

3.3.1总线的主要特征52

3.3.2总线结构52

3.3.3接口功能55

3.4 VXI总线56

3.4.1 VXI标准体系结构56

3.4.2 VXI总线的机械构造58

3.4.3 VXI总线模块结构59

3.4.4 VXI总线的系统机箱59

3.4.5 VXI总线的电气结构60

3.4.6 VXI总线控制方案65

3.5 LXI总线69

3.5.1 LXI总线系统的连接方式69

3.5.2 LXI的网络相关协议71

3.5.3 LXI的物理标准72

3.5.4 LXI仪器的分类定义73

3.5.5 LXI器件的触发74

3.5.6 LXI仪器的界面77

3.5.7 LXI的软件编程规范78

第4章 测控系统的软件开发工具81

4.1引言81

4.2 LabWindows/CVI编程使用81

4.2.1 LabWindows/CVI简介81

4.2.2 LabWindows/CVI编程中的概念81

4.2.3 LabWindows/CVI环境下的软件开发82

4.2.4 LabWindows/CVI开发环境83

4.3 LabWindows/CVI编程实例85

4.4 CVI应用程序的发布92

第5章 测控系统的软件标准93

5.1引言93

5.2虚拟仪器软件结构VISA93

5.2.1 VISA简介93

5.2.2 VISA的结构94

5.2.3 VISA的特点95

5.2.4 VISA的现状96

5.2.5 VISA的应用举例96

5.2.6 VISA资源描述97

5.2.7 VISA事件的处理机制98

5.3可编程仪器标准命令SCPI100

5.3.1 SCPI仪器模型100

5.3.2 SCPI命令句法101

5.3.3常用SCPI命令简介105

5.4 VPP仪器驱动程序107

5.4.1仪器驱动程序的特点107

5.4.2仪器驱动程序的结构模型110

5.4.3仪器驱动程序的功能面板114

5.5 IVI仪器驱动程序116

5.5.1 IVI规范及体系结构116

5.5.2开发IVI特定驱动程序118

5.6 VPP仪器驱动程序设计实例121

5.6.1带操作软面板的虚拟仪器驱动器设计实例121

5.6.2带操作软面板的Agi33521 A驱动器设计122

5.6.3 Agi33521A驱动器的交互式接口设计125

第6章 测控系统的开发平台129

6.1引言129

6.2测控计算机130

6.3仪器系统130

6.3.1测试功能130

6.3.2仪器系统的体系结构131

6.3.3供电131

6.3.4通用测试设备131

6.3.5专用测试设备132

6.3.6检测接口132

6.3.7接口适配器(TUA)134

6.4软件平台134

6.4.1软件平台的外部接口134

6.4.2软件平台功能描述135

6.4.3软件平台系统结构136

第7章 动态测试技术142

7.1引言142

7.2动态测试的特点142

7.3系统动态特性的数学描述143

7.3.1连续系统的动态特性143

7.3.2离散系统的动态特性144

7.4系统的动态特性指标145

7.4.1系统的时域动态特性指标145

7.4.2系统的频域动态特性指标145

7.5动态测试信号的分析方法146

7.6系统故障特征向量的提取146

7.6.1故障特征提取146

7.6.2基于坐标变换的特征提取149

7.6.3基于信号变换的特征提取150

7.7动态测试实例151

7.7.1测试任务151

7.7.2测试方案151

7.7.3信号分析处理153

第8章 测控系统中的故障诊断技术157

8.1引言157

8.1.1故障诊断的基本定义157

8.1.2故障诊断方法的分类158

8.2故障诊断的基本原理159

8.3故障诊断的故障树分析法160

8.3.1故障树分析法特点160

8.3.2故障树的建造161

8.3.3故障树定性分析162

8.4故障诊断专家系统166

8.4.1诊断专家系统概述166

8.4.2诊断专家系统的结构166

8.4.3故障诊断专家系统建立方法167

8.4.4专家系统的设计实现171

8.4.5传统故障诊断专家系统的局限性172

8.5基于神经网络的故障诊断173

8.5.1神经网络的基本原理173

8.5.2神经网络的故障诊断能力176

8.5.3小波包分析与神经网络的结合176

参考文献180

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