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目录1

第一章 绪论1

1-1 数字系统故障对策概论1

1-2 数字系统可靠性技术概论12

1-3 问题的核心19

小结20

参考文献21

2-1 常用数字电路测试设备22

第二章 故障查找基础22

2-2 逻辑分析仪及特征分析仪29

2-3 故障查找基本策略和方法36

2-4 故障检修流程图43

2-5 数字电路故障分析46

小结55

参考文献56

第三章 逻辑故障诊断57

3-1 逻辑故障模型及可测试性57

3-2 布尔差分法64

3-3 通路敏化法71

3-4 D算法75

3-5 PODEM算法和FAN算法84

3-6 逻辑故障测试难点讨论92

3-7 时序逻辑的组合化测试法100

3-8 时序机的功能测试105

3-9 逻辑故障实用测试技术114

3-10 动态逻辑故障对策118

小结126

参考文献128

第四章 数字信号传输故障对策130

4-1 数据传输概论130

4-2 差错控制码138

4-3 传输畸变及对策152

4-4 间歇差错产生原因及排除163

4 5 光纤数据通信167

小结170

参考文献172

5-1 数字电路的抗干扰能力173

第五章 干扰与噪声的防治173

5-2 干扰来源及抗干扰一般对策177

5-3 工频电源干扰的防治182

5-4 电磁干扰及电磁相容性设计189

5-5 其他干扰的防治201

5-6 数字系统内部噪声的抑制206

小结213

参考文献214

6-1 可靠性特征量216

第六章 可靠性技术基础216

6-2 系统的可靠性模型224

6-3 提高数字系统可靠性基本方法232

6-4 可靠性设计概论241

6-5 系统可靠性预计和分配244

小结254

参考文献255

第七章 数字系统易测性设计257

7-1 逻辑可控性和可观性258

7-2 改善逻辑电路易测性基本方法262

7-3 组合逻辑易测性结构设计275

7-4 时序逻辑易测性结构设计282

7-5 印制电路板的易测性设计290

小结299

参考文献300

第八章 故障自检测与失效保险302

8-1 故障安全与自检测302

8-2 组合逻辑自检测电路设计306

8-3 自检测时序电路设计317

8-4 失效保险设计325

小结331

参考文献332

第九章 容错技术334

9-1 概述334

9-2 硬件容错技术337

9-3 信息余裕352

9-4 软件容错技术364

9-5 时间余裕376

小结378

参考文献379