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第一章 概述1

第二章 电子显微术基础14

一、绪言14

二、电子衍射19

1．电子衍射几何条件19

2．用选区衍射作相的鉴定21

3．菊池线23

三、电子衍射花样的解释27

1．概述27

2．衍射花样的校准和测量28

3．单胞的测量28

4．测角台的使用30

5．多重衍射：空间群消光法则34

6．二维电子衍射花样35

四、完整晶体的衬度37

1．运动学理论37

2．动力学理论38

五、不完整晶体的衬度39

1．概述39

2．分析信息的必要条件40

3．点阵缺陷的一般判据42

4．平面缺陷43

5．位错50

6．小体积缺陷52

六、高压多束效应和衬度53

第三章 实验技术58

一、岩石、矿物薄膜的制备59

1．直接压制或剥制的矿物碎片和解理片61

2．薄片的制备62

3．离子减薄法63

4．离子减薄仪64

5．样品减薄程序66

6．化学减薄法69

二、电子显微镜的各种样品台72

1．顶插式样品台72

2．侧插式样品台73

3．倾斜样品台73

4．热台74

5．冷台77

6．拉伸台78

7．环境室78

8．原地实验80

9．原地实验的动态记录82

三、立体显微术83

第四章 出溶作用86

一、沉淀成核和亚稳分解86

1．均匀成核88

2．非均匀成核89

3．中间相89

4．亚稳分解91

二、沉淀物的生长和粗化92

1．沉淀物的生长92

2．相变速率92

3．粗化94

三、辉石中的出溶作用95

1．各种辉石相的关系95

2．单斜辉石97

3．斜方—单斜辉石101

四、角闪石中的出溶作用103

五、长石中的出溶作用104

1．碱性长石104

2．斜长石110

（1）晕长石110

（2）拉长石111

（3）倍长石114

（4）斜长石相图115

第五章 多形相变117

一、矿物的相变分类117

二、相变的原因119

三、相变形成的界面类型120

1．尖晶石121

四、矿物多形相变的实例121

（一）非滑切界面的相变121

2．氧化硅矿物124

3．单斜辉石124

4．长石126

5．方柱石131

（二）滑切界面的相变132

1．斜锆石132

2．斜方辉石132

第六章 矿物中的变形结构134

一、矿物变形的条件135

二、缺陷在变形中的作用136

三、位错的衬度140

1．石英144

四、矿物变形结构的研究144

2．辉石149

3．橄榄石152

五、小结155

第七章 特殊技术及其应用158

一、电子扫描技术及其应用158

（一）扫描电子束激发的各种信息159

1．背散射电子162

2．二次电子163

3．吸收电子166

4．俄歇电子和特征X射线166

5．阴极致发光169

6．透射电子171

（二）扫描技术的应用172

二、电子显微镜中的成分分析技术176

（一）电子显微镜中常用的各种成分分析技术177

1．电子显微镜和X射线分光谱仪的结合177

2．电子显微镜和特征能量损失电子谱仪的结合178

3．扫描透射电子显微镜和电子谱仪的结合179

4．透射电子显微术和X射线能谱分析技术的结合179

（二）薄膜中X射线的发射179

（三）薄膜的定量分析182

1．电子与薄膜的交互作用182

2．用X射线能谱仪测定X射线的强度185

3．薄膜样品的定量分析188

（四）成分分析技术的应用190

1．纤维状水硅铝钙石的成分分析190

2．两个斜方辉石中出溶片晶的分析191

3．倍长石中出溶片晶的分析193