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绪论1

第一篇 耐火材料光学显微学研究法3

第一章 晶体及其宏观对称性3

第一节 晶体的概念3

第二节 晶体的基本性质4

第三节 晶体的对称及分类5

第四节 晶体的单形和聚形8

第五节 晶面符号11

第二章 晶体光学基本原理15

第一节 自然光和偏光15

第二节 光性均质体和非均质体16

第三节 全反射、晶体折射仪及其应用18

第四节 光率体19

第三章 偏光显微镜及薄片的制备26

第一节 偏光显微镜的光路系统27

第二节 偏光显微镜的构造28

第三节 显微镜光源35

第四节 偏光显微镜的主要附件36

第五节 偏光显微镜的检验和校正37

第六节 薄片的制备38

第四章 透明矿物在偏光显微镜下的研究42

第一节 单偏光系统下的观察和测量42

第二节 正交偏光系统下的观察和测量47

第三节 聚敛偏光系统下的观察和测量58

第四节 薄片中透明矿物的系统鉴定69

第五节 油浸法71

第五章 反光显微镜及其在耐火材料研究中的应用74

第一节 垂直照明器75

第二节 反射偏光显微镜的检验和校正78

第三节 光片及光薄片的制备79

第四节 反光显微镜下的观察和测量82

第二篇 电子光学研究法简介88

第六章 X射线分析法88

第一节 X射线的性质和产生88

第二节 X射线谱89

第三节 滤波片91

第四节 X射线在晶体中的衍射92

第五节 X射线物相分析93

第六节 X射线粉末法在物相分析中的应用97

第七章 透射式电子显微镜100

第一节 电子显微镜的光源和透镜100

第二节 电子显微镜的构造102

第三节 样品的制备103

第八章 扫描电子显微镜105

第一节 扫描电子显微镜的工作原理105

第二节 扫描电子显微镜的工作方式107

第三节 扫描电子显微镜样品的制备109

第九章 电子探针X射线显微分析109

第一节 电子探针工作原理109

第二节 仪器构造110

第三节 样品的制备112

第四节 使用后耐火材料电子探针分析示例113

第三篇 耐火材料岩相分析114

第十章 矿物原料地质学概述114

第一节 矿物与工艺矿物114

第二节 矿物的成分类型及性质114

第三节 岩石及地壳的化学组成116

第四节 矿石、矿体和矿床120

第十一章 原料及制品中常见矿物鉴定121

第一节 矿物宏观鉴定特征综述121

第二节 矿物原料及耐火制品中常见矿物鉴定特征125

第十二章 显微结构分析基础知识152

第一节 显微结构及其研究内容152

第二节 耐火材料显微结构的基本类型154

第三节 体视学的初步概念155

第四节 显微结构参数及其测定158

第五节 自动图象分析仪165

第十三章 耐火材料岩相分析166

第一节 镁质耐火材料岩相分析166

第二节 镁铬质耐火材料岩相分析173

第三节 白云石耐火材料岩相分析178

第四节 粘土及高铝质耐火材料岩相分析189

第五节 硅质耐火材料岩相分析196