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第1章自动测试系统概述1

1.1 自动测试系统的发展1

1.1.1 自动测试系统的概念与组成1

目 录1

1.1.2 自动测试系统的应用范围3

1.1.3 自动测试系统的发展概况3

1.2自动测试设备和测试程序集7

1.2.1 自动测试设备7

1.2.2 ATE的类型14

1.2.3测试程序集19

1.3.1 ATE的开发过程及研制策略21

1.3 自动测试系统的研制过程和研制策略21

1.3.2TPS开发过程26

1.4通用自动测试系统简介31

1.4.1早期的自动测试系统31

1.4.2近期的通用自动测试系统37

1.5开关系统设计41

1.6 自动测试系统研制中涉及的主要标准42

1.6.1系统研制及软件开发标准42

1.6.2硬件系统组建标准47

1.6.3测试及诊断信息标准48

1.7.1虚拟仪器的概念和结构51

1.7虚拟仪器技术对自动测试系统发展的影响51

1.7.2 ATE中的虚拟测量仪器53

1.7.3 ATE中的虚拟激励源53

1.7.4虚拟仪器的软件框架54

1.7.5虚拟仪器对军用ATE发展的影响56

1.8通用测试语言ATLAS56

1.8.1 IEEE 716-95与ARINC 626-3的比较57

1.8.2 ATLAS 2000的主要特点63

1.8.3 ATLAS 2000对现有的ATLAS语言的主要改进65

1.9.2维修分级与综合诊断策略66

1.9.1故障检测与诊断策略66

1.9维修故障诊断策略和诊断技术66

1.9.3智能故障诊断方法综述70

第2章测试总线技术84

2.1测试总线的概念84

2.1.1总线的基本规范内容84

2.1.2总线的性能指标85

2.1.3总线的类型86

2.2 GPIB通用接口总线87

2.2.2 GPIB及IEEE488的发展87

2.2.2 IEEE488.1标准88

2.2.3 IEEE488.2标准96

2.2.4 IEEE488的性能扩展102

2.2.5 HS 488高速挂钩协议的GPIB接口总线103

2.3 VME总线105

2.3.1 VME总线概述105

2.3.2 VME总线标准的形成与发展106

2.3.3 VME总线的系统体系结构109

2.3.4 VME总线的硬件机械结构111

2.3.5 VME64x的信号定义和连接器结构115

2.3.6 VME总线的应用118

2.4 VXI总线118

2.4.2 VXI总线的机械构造119

2.4.1 VXI总线的特点119

2.4.3 VXI总线的电气性能122

2.4.4 VXI技术的发展和新的技术规范130

2.4.5 MXI接口总线132

2.5 CompactPCI和PXI总线136

2.5.1 CompactPCI总线技术137

2.5.2 PXI总线技术141

2.6 USB/IEEE1394通用串行总线148

2.6.1 USB概况148

2.6.2 USB的基本性能149

2.6.3 USB系统的架构和通信模型150

2.6.4 USB集线器153

2.6.5 USB总线协议和数据流类型155

2.6.6 USB设备的配置和通用操作156

2.6.7USB物理接口的特性157

2.6.8 IEEE1394159

第3章 自动测试系统的软件控制技术161

3.1虚拟仪器设备控制概念161

3.2即插即用软件标准162

3.3虚拟仪器系统结构164

3.3.1概述164

3.3.2软件交互调试工具165

3.3.3 VISA技术入门术语166

3.4IVI可互换虚拟仪器169

3.4.1仪器驱动程序概述169

3.4.2 IVI仪器驱动程序171

3.4.3用户如何使用IVI仪器驱动程序171

3.4.4 IVI仪器驱动程序结构171

3.4.5 IVI驱动程序举例176

第4章自动测试系统硬件集成技术199

4.1 自动测试系统硬件组成199

4.2 自动测试设备的类型及框图200

4.3.1影响自动测试系统硬件集成的主要因素202

4.3 自动测试系统硬件集成202

4.3.2自动测试系统硬件集成过程203

4.3.3测试系统硬件集成策略210

4.4控制器的选择与配置210

4.4.1外置控制器211

4.4.2嵌入式控制器212

4.5开关系统设计213

4.5.1开关系统设计原则213

4.5.2开关的类型和开关模块的拓扑结构214

4.5.3典型开关产品性能参数比较216

4.5.4延长开关寿命的设计217

4.5.5开关系统的配置218

4.5.6开关系统设计举例220

4.6信号接口装置设计222

4.6.1信息接口装置的类型222

4.6.2通用信号接口装置机械结构224

4.6.3通用测试接口的定义与连接225

4.6.4接口适配器的设计227

4.6.5 ATE系统校准策略与校准适配器的设计230

4.7可靠性与安全性设计233

4.7.1可靠性设计233

4.7.2抗干扰设计234

4.7.3安全性设计239

第5章 自动测试系统软件研制技术243

5.1测试软件的组成及结构243

5.1.1测试软件技术的发展243

5.1.2虚拟测试系统的概念及组成244

5.1.3虚拟测试系统的体系结构247

5.2 自动测试系统的应用软件开发工具251

5.2.1 LabVIEW252

5.2.2 MeasurementStudio（测量工作室）253

5.2.3 LabWindows/CVI255

5.2.4TestStand（测试站）260

5.2.5 PAWS264

5.2.6 TestBase269

5.2.7虚拟仪器测试环境VITE273

5.2.8通用数据采集工作站软件包DAS279

5.3通用测试语言及其应用283

5.3.1 ATLAS发展概况283

5.3.2 ARINC626和IEEE716的特点287

5.3.3 ATLAS2000语言288

5.4.1研制计划300

5.4.2需求分析300

5.4专用自动测试系统的软件研制300

5.4.3系统设计301

5.4.4程序设计307

5.4.5软件测试315

5.5通用测试软件研制技术基础317

5.5.1组件设计技术318

5.5.2虚拟仪器接口对象模型技术321

5.5.3模型驱动体系结构设计技术324

5.5.4故障诊断326

5.6.1系统资源接口设计334

5.6测试程序集的开发方法334

5.6.2测试程序设计335

5.7 自检、自校及可靠性、安全性设计337

5.7.1 自检338

5.7.2软件维护过程338

5.7.3 自校339

5.7.4可靠性及安全性340

第6章 自动测试系统的集成方法与步骤342

6.1 ATS开发与集成过程342

6.2测试需求分析及文件编写344

6.2.1测试需求分析的内容344

6.2.2测试需求文档举例345

6.3 自动测试系统总体方案设计356

6.3.1系统电气连接形式356

6.3.2控制方式357

6.3.3系统总线构型357

6.3.4系统结构358

6.4自动测试系统硬件设计361

6.4.1硬件需求分析361

6.4.2测试资源选型362

6.4.3检测接口装置及信号定义362

6.5.1 自动测试系统软件结构363

6.5 自动测试系统软件研制过程363

6.5.2软件文档364

6.5.3软件平台设计366

6.5.4测试程序设计369

6.5.5软件研制过程371

6.6系统验收测试372

6.6.1概述372

6.6.2常规验收373

6.6.3定期试验374

6.6.4可靠性验收试验和维修性验证试验374

附录1 自动测试系统部分成果项目375

附录2英文缩写词381