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绪论1

0.1 电路与电子系统的复杂性1

0.2 电路与电子系统故障诊断的必要性2

0.3 电路与电子系统测试的特点2

0.3.1 模拟电路与系统测试的特点2

0.3.2 数字电路与系统测试的特点3

0.3.3 混合电路测试的特点4

0.4 本书主要内容4

本章参考文献6

第1章 电子系统常用故障诊断方法7

1.1 常见故障诊断方法7

1.1.1 基于故障模型的诊断方法7

1.1.2 基于机器学习的诊断方法9

1.1.3 基于信号处理的方法10

1.1.4 基于解析模型的方法11

1.1.5 基于知识的故障诊断方法12

1.1.6 故障诊断方法的发展趋势14

1.2 基于故障树的故障诊断方法15

1.2.1 故障树分析法中的基本概念和符号16

1.2.2 故障树的生成17

1.2.3 IEEE 1232的系统结构19

1.2.4 IEEE 1232模型文件19

1.2.5 IEEE 1232的推理机服务20

本章参考文献21

第2章 数字电路测试与故障诊断22

2.1 数字电路测试方法概述22

2.1.1 数字电路测试的基本概念22

2.1.2 数字电路测试的必要性和复杂性22

2.1.3 数字电路测试的发展24

2.2 数字电路故障模型与测试25

2.2.1 故障及故障模型25

2.2.2 故障测试27

2.2.3 故障冗余29

2.3 数字电路测试的基本任务30

2.3.1 测试矢量的产生30

2.3.2 测试响应的观测31

2.4 可测性与完备性32

2.4.1 可测性32

2.4.2 完备性32

2.5 复杂系统的分级测试33

2.5.1 子系统一级的测试33

2.5.2 微机系统的测试34

2.6 穷举测试法34

2.6.1 单输出无扇出电路35

2.6.2 带汇聚扇出的单输出电路38

2.6.3 各输出不依赖于全部输入的多输出电路40

2.7 故障表方法40

2.7.1 固定式列表计划侦查41

2.7.2 固定计划定位42

2.7.3 适应性计划侦查和定位44

习题47

本章参考文献48

第3章 组合电路与时序电路的故障诊断50

3.1 通路敏化50

3.1.1 敏化通路50

3.1.2 通路敏化法51

3.1.3 关于一维敏化的讨论53

3.1.4 多维敏化55

3.2 d算法56

3.2.1 d算法的基础知识56

3.2.2 d算法的基本步骤58

3.2.3 d算法举例58

3.2.4 扩展d算法63

3.3 布尔差分法68

3.3.1 布尔差分的基本概念68

3.3.2 布尔差分的特性69

3.3.3 求布尔差分的方法70

3.3.4 单故障的测试73

3.3.5 多重故障的测试76

3.4 故障字典78

3.5 时序逻辑电路的测试78

3.6 迭接电路法79

3.6.1 基本思想79

3.6.2 同步时序电路的组合迭接80

3.6.3 异步时序电路的组合迭接82

3.7 状态变迁检查法85

3.7.1 初始状态的设置85

3.7.2 状态的识别88

3.7.3 故障的测试88

3.7.4 区分序列的存在性89

习题91

第4章 模拟电路与混合信号的故障诊断92

4.1 模拟电路测试的复杂性92

4.1.1 模拟电路故障诊断概述92

4.1.2 模拟电路故障诊断技术的产生92

4.1.3 模拟电路故障特点93

4.1.4 故障诊断是网络理论的一个重要分支93

4.2 模拟电路的故障模型94

4.3 模拟电路的故障诊断方法95

4.3.1 传统的故障诊断方法96

4.3.2 目前的故障诊断方法96

4.3.3 发展中的新故障测试方法97

4.4 故障字典法99

4.4.1 直流域中字典的建立99

4.4.2 频域中字典的建立103

4.4.3 时域中字典的建立107

4.4.4 故障的识别与分辨110

4.5 混合信号测试概述112

4.5.1 混合信号的发展112

4.5.2 混合信号测试面临的挑战112

4.5.3 混合信号的基本测试方法113

4.5.4 混合信号测试的展望114

4.6 数模/模数转换器简介115

4.6.1 数模转换器115

4.6.2 模数转换器118

4.7 混合信号测试总线124

4.7.1 IEEE 1149.4电路结构124

4.7.2 IEEE 1149.4测试方法126

4.7.3 IEEE 1149.4标准指令126

本章参考文献128

第5章 电路板维修技术130

5.1 维修前的准备130

5.1.1 维修设备和工具130

5.1.2 安全技术130

5.1.3 感官训练131

5.2 检修技术和方法131

5.2.1 电路检修原则131

5.2.2 具体电路问题及故障处理顺序132

5.2.3 故障维修方法132

5.2.4 小结145

第6章 微机系统的故障诊断146

6.1 存储器的测试146

6.1.1 RAM中的故障类型147

6.1.2 测试的若干原则性考虑148

6.1.3 存储器测试方法149

6.1.4 各种测试方法的比较154

6.2 ROM的测试方法155

6.3 微处理器的测试156

6.3.1 μP的算法产生测试157

6.3.2 μP功能性测试的一般方法160

6.3.3 μP功能性测试的系统图方法165

6.4 利用被测系统的应用程序进行测试167

6.4.1 基本概念167

6.4.2 应用程序的模型化167

6.4.3 关系图169

6.4.4 测试的组织171

6.4.5 通路测试的算法173

习题176

本章参考文献176

第7章 可测性设计177

7.1 可测性设计的概念177

7.1.1 可靠性的定义177

7.1.2 可靠性的主要参数指标178

7.1.3 可测性设计的提出178

7.2 可测性设计的发展179

7.2.1 可测性的起源与发展过程179

7.2.2 国内情况180

7.2.3 关键的技术181

7.2.4 国际标准182

7.2.5 可测性设计发展趋势184

7.3 可测性的测度185

7.3.1 基本定义185

7.3.2 标准单元的可测性分析187

7.3.3 可控性和可观测性的计算189

7.4 可测性设计方法190

7.5 内建自测试设计193

7.5.1 多位线性反馈移位寄存器194

7.5.2 伪随机数发生器196

7.5.3 特征分析器197

7.5.4 内建自测试电路设计199

7.6 边界扫描技术201

7.6.1 JTAG边缘扫描可测性设计的结构202

7.6.2 工作方式204

7.6.3 边缘扫描单元的级联205

7.6.4 JTAG的指令206

7.6.5 JTAG应用举例207

7.6.6 JTAG的特点209

本章参考文献209

第8章 网络化测试仪器211

8.1 分布式自动测试系统211

8.1.1 分布式系统概述211

8.1.2 分布式系统结构及其特点212

8.1.3 分布式系统的优势213

8.1.4 分布式自动测试系统214

8.2 网络化测试仪器216

8.2.1 网络化测试仪器概述216

8.2.2 网络化测试仪器设计规范216

8.3 LXI总线测试仪器232

8.3.1 LXI总线的发展232

8.3.2 LXI测试仪器的基本特性232

8.3.3 LXI测试仪器的分类234

8.3.4 LXI测试仪器的结构与电气特性237

8.3.5 LXI测试仪器的网络设置与通信241

8.3.6 LXI测试仪器的触发与同步246

8.3.6 LXI测试仪器IVI驱动接口设计方法249

本章参考文献252

第9章 面向信号的自动测试系统253

9.1 自动测试系统概述及发展253

9.1.1 自动测试系统的框架结构253

9.1.2 自动测试系统的提出与发展254

9.1.3 面向信号自动测试系统256

9.1.4 面向信号的自动测试系统的技术框架257

9.2 IEEE1641协议259

9.2.1 IEEE1641的提出259

9.2.2 信号的层次结构260

9.2.3 IEEE1641标准的不足262

9.3 ATML标准262

9.3.1 XML标记语言262

9.3.2 ATML标准263

9.3.3 协议与自动测试系统各部分的关系264

9.4 IVI技术265

9.4.1 可互换虚拟仪器技术265

9.4.2 IVI技术266

9.4.3 IVIsignal268

9.5 自动测试系统应用269

9.5.1 自动测试系统的软件结构269

9.5.2 测试过程271

本章参考文献271