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1 测量误差与实验数据处理1

1.1 测量与测量误差1

1.1.1 测量1

1.1.2 测量误差1

1.2 误差的分类2

1.2.1 系统误差2

1.2.2 随机误差3

1.2.3 粗差3

1.2.4 随机误差与系统误差的关系3

1.3 随机误差的统计处理4

1.3.1 正态分布4

1.3.2 t分布5

1.4 直接测量结果的表示7

1.5 间接测量结果的表示和不确定度的合成8

1.6 实验数据的有效位数8

1.6.1 有效位数的概念8

1.6.2 有效位数的确定规则9

1.6.3 数据修约的进舍规则10

1.7 常用数据处理方法11

1.7.1 列表法11

1.7.2 作图法11

1.8 实验数据的直线拟合13

1.8.1 用最小二乘法进行直线拟合13

1.8.2 用EXCEL软件进行直线拟合15

1.8.3 用ORIGIN进行直线拟合18

2 电磁学实验21

2.1 磁场中载流导线的受力——安培力21

2.2 用模拟法测绘静电场22

2.3 标定温差电偶的刻度26

2.4 用非平衡电桥组装及标定电阻温度计29

2.5 交流电桥32

2.6 RC电路38

2.7 冲击电流计的研究46

2.8 铁磁材料磁滞回线的测定54

2.9 铁磁材料居里点的测定58

2.10 逸出功的测定62

2.11 电子束的偏转与聚焦68

2.12 电子荷质比（e/m）的测定74

2.13 金属薄膜的制备及电阻率的测量81

2.14 磁性薄膜磁电阻的测量86

2.15 磁场分布、磁敏感元件特性研究92

3 光学实验96

3.1 几何光学96

3.2 测量固体和液体的折射率103

3.3 超声光栅107

3.4 分波面干涉实验111

3.5 激光散斑法测量横向微小位移实验115

3.6 压电陶瓷振动的干涉测量117

3.7 多光束干涉仪（F-P干涉仪）120

3.8 夫朗和费衍射125

3.9 菲涅耳衍射130

3.10 偏振光的特性实验135

3.11 旋光仪138

3.12 光学图像微分实验142

3.13 全息照相（白光再现）147

4 近代物理实验150

4.1 电子电荷e值的测定150

4.2 汞原子激发电位的测定155

4.3 用横振动法测量固体材料在高温下的弹性模量159

4.4 光电倍增管的光谱特性165

4.5 核蜕变的统计规律和物质对β射线的吸收170

4.6 微波基础实验176

4.7 微波光学实验184

4.8 用反射式谐振腔测量微波介质材料的介电常数191

4.9 氢与氘原子光谱194

4.10 钠原子光谱201

4.11 塞曼效应211

4.12 铁磁共振217

4.13 核磁共振221

5 现代物理实验232

5.1 电子顺磁共振232

5.2 光泵磁共振239

5.3 变温霍尔效应248

5.4 干涉显微镜的使用252

5.5 用干涉方法测量薄膜应力255

5.6 振动样品磁强计的使用259

5.7 用阻抗分析仪测量介质薄膜材料的电容率264

5.8 原子力显微镜的使用269

5.9 电子束蒸发镀膜仪的使用271

5.10 磁控溅射镀膜仪的使用276

5.11 硼元素的径迹显微分析技术281

6 课题型实验285

6.1 制备参数对银薄膜电阻率和应力的影响285

6.2 梯度薄膜的制备及薄膜应力的研究286

6.3 制备参数对氧化锌铝透明电极材料电学性质的影响287

6.4 工艺参数对NiFe薄膜磁电阻特性的影响288

6.5 氧化铝陶瓷薄膜材料的制备及电绝缘特性的研究288

6.6 高K介电薄膜材料的制备及介电特性研究289

附录291

附录1 常用物理学常数表291

附录2 物理量的单位（SI基本单位）291

附录3 物理量的单位（SI导出单位）292