图书介绍

半导体存储器测试技术2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载

上海半导体器件研究所情报资料室著
出版社：上海半导体器件研究所
ISBN：
出版时间：1977
标注页数：168页
文件大小：9MB
文件页数：172页
主题词：

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图书目录

目录1

半导体存储器测试技术1

动态存储器15

半导体存储器测试18

MOS存储器的图形灵敏度27

4096位随机存取存储器的图形灵敏度29

MOS随机存取存储器的诊断性测试37

随机存取存储器的测试图形及测试对策44

4K随机存取存储器的测试问题及其解决方法52

严密、高速的“移动变反”测试图形61

存储器测试对策67

只读存储器和可编程序只读存储器的测试需要什么条件75

静态双极型随机存取存储器的测试86

在芯片和插件板一级测试双极型半导体存储器所遇到的问题97

电荷耦合存储器的测试原理99

多少测试项目才够数？111

存储器和大规模集成电路的时间测试的必要性116

器件测试系统之探讨131

第三代测试系统的新结构141

计算样品统计分布的四次测量及通知非正态性分布的一种快速工作程序147

汇编结构及改正算法153

高速存储器／随机逻辑测试系统160