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美国军用标准 MIL-STD-765B 计数抽样检查程序及表格2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载

美国军用标准 MIL-STD-765B 计数抽样检查程序及表格
  • 电子工业部标准化研究所编 著
  • 出版社: 电子工业部标准化研究所
  • ISBN:
  • 出版时间:1973
  • 标注页数:65页
  • 文件大小:12MB
  • 文件页数:70页
  • 主题词:

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图书目录

内容1

1范围1

2缺陷和不合格品分类2

3不合格品率和每百单元缺陷数2

4可接收质量水平(AQL)3

5产品的提交4

6合格和不合格4

7样品的抽取5

8正常、加严和放宽检查5

9抽样方案6

10批的合格与不合格的决定7

11其它8

表10

表Ⅰ样品大小字码10

表Ⅱ—A一次正常检查抽样方案(主表)11

表Ⅱ—B一次加严检查抽样方案(主表)12

表Ⅱ—C一次放宽检查抽样方案(主表)13

表Ⅲ—A二次正常检查抽样方案(主表)14

表Ⅲ—B二次加严检查抽样方案(主表)15

表Ⅲ—C二次放宽检查抽样方案(主表)16

表Ⅳ—A多次正常检查抽样方案(主表)17

表Ⅳ—B多次加严检查抽样方案(主表)19

表Ⅳ—C多次放宽检查抽样方案(主表)21

表Ⅴ—A正常检查平均出厂质量上限系数(一次抽样)23

表Ⅴ—B加严检查平均出厂质量上限系数(一次抽样)24

表Ⅵ— A极限质量(不合格品率),Pa= 10%(正常检查,一次抽样)25

表Ⅵ— B极限质量(每百单元缺陷数),Pa =10%(正常检查、一次抽样)26

表—A极限质量(不合格品率),Pa= 5%(正常检查、一次抽样)27

表Ⅶ一B极限质量(每百单元缺陷数),Pa= 5 %(正常检查、一次抽样)28

表Ⅷ 放宽检查的界限数29

表Ⅸ 二次和多次抽样平均样品大小曲线30

各样品字码的抽样方案、抽查特性曲线及数值表:31

表X—A样品字码A31

表X—B样品字码B33

表X—C样品字码C35

表X—D样品字码D37

表X—E样品字码E39

表X—F样品字码F41

表X—G样品字码G43

表X—H样品字码H45

表X—J样品字码J47

表X—K样品字码K49

表X—L样品字码L51

表X—M样品字码M53

表X—N样品字码N55

表X—P样品字码P57

表X—Q样品字码Q59

表X—R样品字码R61

表X—S样品字码S63

专有名词索引64

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