图书介绍
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- 李凯编著 著
- 出版社: 北京:清华大学出版社
- ISBN:9787302376118
- 出版时间:2014
- 标注页数:411页
- 文件大小:96MB
- 文件页数:481页
- 主题词:数字接口-接口技术-指南
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图书目录
上部 高速数字信号测量原理1
第1章 无处不在的数字接口2
第2章 数字信号基础5
2.1 什么是数字信号(Digital Signal)5
2.2 数字信号的上升时间(Rising Time)6
2.3 数字信号的带宽(Bandwidth)6
2.4 数字信号的建立/保持时间(Setup/Hold Time)8
2.5 并行总线与串行总线(Parallel and Serial Bus)10
2.6 单端信号与差分信号(Single-ended and Differential Signals)13
2.7 数字信号的时钟分配(Clock Distribution)15
2.8 串行总线的8b/10b编码(8b/10b Encoding)17
2.9 伪随机码型(PRBS)21
2.10 传输线对数字信号的影响(Transmission Line Effects)23
2.11 数字信号的预加重(Pre-emphasis)26
2.12 数字信号的均衡(Equalization)31
2.13 数字信号的抖动(Jitter)34
2.14 扩频时钟(SSC)37
第3章 数字测试基础40
3.1 数字信号的波形分析(Waveform Analysis)40
3.2 数字信号的眼图分析(Eye Diagram Analysis)45
3.3 眼图的参数测量(Eye Diagram Measurement)49
3.4 眼图的模板测试(Mask Test)51
3.5 数字信号抖动的成因(Root Cause of Jitter)54
3.6 数字信号的抖动分解(Jitter Seperation)58
3.7 串行数据的时钟恢复(Clock Recovery)61
3.8 示波器的抖动测量能力(Jitter Measurement Floor of Scope)64
3.9 相位噪声测量(Phase Noise Measurement)68
3.10 传输线的特征阻抗(Characteristic Impedance)71
3.11 特征阻抗的TDR测试(Time Domain Reflectometer)73
3.12 传输线的建模分析(Transmission Line Modelling)75
第4章 实时示波器原理83
4.1 模拟示波器(Analog Oscilloscope)84
4.2 数字存储示波器(Digital Storage Oscilloscope)86
4.3 示波器的带宽(Bandwidth)89
4.4 示波器的频响方式(Frequency Response)90
4.5 示波器带宽对测量的影响(Bandwidth Impact)91
4.6 示波器的带宽增强技术(Bandwidth Enhancement Technology)94
4.7 示波器的频带交织技术(Bandwidth Interleaving Technology)95
4.8 示波器的采样技术(Sampling Technology)95
4.9 示波器的分辨率(Vertical Resolution)100
4.10 示波器的直流电压测量精度(DC Voltage Accuracy)101
4.1l 示波器的时间测量精度(Delta-Time Accuracy)103
4.12 示波器的等效位数(ENOB)104
4.13 示波器的高分辨率模式(High Resolution)107
4.14 示波器的内存深度(Memory Depth)109
4.15 示波器的死区时间(Dead Time)110
4.16 示波器的显示模式(Display Mode)112
4.17 示波器的触发(Trigger)114
4.18 示波器的触发条件(Trigger Conditions)117
4.19 示波器的触发模式(Trigger Mode)119
4.20 示波器的测量速度(Measurement update rate)120
附录 Agilent公司90000X系列高端示波器原理121
第5章 示波器探头原理130
5.1 高阻无源探头(High Impedance Passive Probe)134
5.2 无源探头的常用附件(Passive Probe Accessories)136
5.3 低阻无源探头(Low Impedance Passive Probe)139
5.4 有源探头(Active Probe)140
5.5 差分探头(Differential Probe)141
5.6 电流探头(Current Probe)144
5.7 高灵敏度探头(High-sensitivity Probe)145
5.8 探头连接前端对测量的影响(Probe Head)148
5.9 探头衰减比对测量的影响(Probe Attenuation Ratio)151
5.10 探头的校准方法(Probe Calibration)152
第6章 其他常用数字测量仪器155
6.1 采样示波器(Sampling OsciIloscope)155
6.2 矢量网络分析仪与TDR(VNA and TDR)159
6.3 逻辑分析仪(Logic Analyzer)162
6.4 协议分析仪(Protocol Analyzer)170
6.5 误码分析仪(Bit Error Ratio Tester)173
附录1 Agilent公司U4154A逻辑分析仪简介177
附录2 示波器协议解码功能和协议分析仪的区别179
第7章 常用测量技巧182
7.1 电源纹波噪声测试方法182
7.2 时间间隔测量184
7.3 如何用示波器进行ps级时间精度的测量185
7.4 怎样测量PLL电路的锁定时间188
7.5 T型头和功分器的区别190
7.6 如何克服测试电缆对高频测量的影响192
第8章 用多台仪器搭建自动测试系统196
8.1 自动化测试系统196
8.2 LXI测试系统的硬件平台198
8.3 IXI测试系统的软件架构199
8.4 LXI测试系统的优点200
8.5 LXI测试系统的兼容性问题201
8.6 LXI测试系统的时钟同步201
8.7 LXI测试系统的网络安全性202
下部 高速数字接口及测试方法203
第9章 PCI-E简介及信号和协议测试方法205
9.1 PCI-E总线简介205
9.2 PCI-E协会简介206
9.3 PCI-E信号质量测试208
9.4 PCI-E协议调试和测试215
9.5 PCI-E测试总结和常见问题219
第10章 PCI-E 3.0简介及信号和协议测试方法221
10.1 PCI-E 3.0数据速率的变化221
10.2 PCI-E 3.0发送端的变化222
10.3 PCI-E 3.0接收端的变化223
10.4 PCI-E 3.0信号质量测试224
10.5 PCI-E 3.0接收端容限测试227
10.6 PCI-E 3.0协议的测试230
10.7 PCI-E 3.0测试总结及常见问题232
第11章 SATA简介及信号和协议测试方法234
11.1 SATA总线简介234
11.2 SATA协会简介235
11.3 SATA发送信号质量测试236
11.4 SATA接收容限测试240
11.5 SATA协议层测试和调试241
11.6 SATA测试总结及常见问题243
第12章 Ethernet简介及信号测试方法247
12.1 以太网技术简介247
12.2 10Base-T以太网测试项目248
12.3 100Base-Tx以太网测试项目250
12.4 1000Base-T以太网测试项目251
12.5 10M/100M/1000M以太网的测试253
12.6 10GBase-T的测试项目及测试256
12.7 XAUI和10GBase-CX4测试方法262
12.8 SFP+/10GBase-KR接口及测试方法264
12.9 100G以太网标准及测试方法267
12.10 100G及更高速率相干光通信测试方法269
12.11 以太网测试总结及常见问题271
第13章 MIPI D-PHY简介及信号和协议测试方法274
13.1 MIPI简介274
13.2 MIPI D-PHY简介275
13.3 MIPI D-PHY信号质量测试276
13.4 MIPI D-PHY的接收端容限测试281
13.5 MIPI CSI/DSI的协议测试282
13.6 MIPI D-PHY测试总结及常见问题285
第14章 MIPI M-PHY简介及信号和协议测试方法288
14.1 MIPI M-PHY简介288
14.2 MIPI M-PHY的信号质量测试290
14.3 MIPI M-PHY的协议解码293
14.4 DigRF简介295
14.5 DigRF物理层测试297
14.6 DigRF协议层测试297
14.7 MIPI M-PHY测试总结及常见问题299
第15章 存储器简介及信号和协议测试302
15.1 存储器简介302
15.2 DDR简介303
15.3 DDR信号的读写分离303
15.4 DDR的信号探测技术307
15.5 DDR的信号测试309
15.6 DDR的协议测试312
15.7 eMMC简介及测试314
15.8 SD卡/UHS简介及测试317
15.9 存储器测试总结及常见问题319
第16章 USB 2.0简介及信号和协议测试322
16.1 USB 2.0简介322
16.2 USB 2.0的信号质量测试方法325
16.3 USB 2.0信号质量测试中的测试模式设置328
16.4 USB 2.0协议层调试方法332
16.5 USB测试总结及常见问题334
第17章 USB 3.0简介及信号和协议测试337
17.1 USB 3.0简介337
17.2 USB 3.0的发送端信号质量测试338
17.3 USB 3.0信号质量测试中的测试码型和LFPS信号342
17.4 USB 3.0的接收容限测试345
17.5 USB 3.0的电缆、连接器测试349
17.6 USB 3.0的协议测试351
17.7 USB 3.0测试总结及常见问题352
第18章 HDMI简介及信号和协议测试356
18.1 数字显示接口356
18.2 HDMI简介357
18.3 HDMI发送信号质量测试361
18.4 HDMI电缆和连接器的测试363
18.5 HDMI接收容限测试364
18.6 HDMI的协议层测试365
18.7 HDMI 1.4 HEAC的测试366
18.8 HDMI测试总结及常见问题367
第19章 MHL简介及信号和协议测试372
19.1 MHL简介372
19.2 MHL发送信号质量测试375
19.3 MHL接收容限测试377
19.4 MHL的协议测试381
19.5 MHL测试总结及常见问题382
第20章 DisplayPort简介及信号测试384
20.1 DisplayPort简介384
20.2 DisplayPort发送信号质量测试386
20.3 DisplayPort接收容限测试390
20.4 DisplayPort电缆和连接器测试391
20.5 MYDP简介及测试394
20.6 DisplayPort测试总结及常见问题395
第21章 LVDS传输系统简介及测试398
21.1 LVDS简介398
21.2 LVDS的数字逻辑测试399
21.3 LVDS信号质量测试401
21.4 LVDS互连电缆和PCB的阻抗测试401
21.5 LVDS系统误码率测试403
21.6 LVDS测试总结404
第22章 MIL-STD-1553B简介及测试405
22.1 1553总线简介405
22.2 1553总线的触发和解码408
22.3 1553总线的测试409
22.4 1553总线的未来411
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