现代测试技术2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载

现代测试技术PDF格式电子书版下载

注意：本站所有压缩包均有解压码： 点击下载压缩包解压工具

8.6.4边缘扫描测试 441

目 录1

5.2.2倒数计数器 261

4.4.2相位噪声的定义和表示 241

9.5.5网络连接技术 541

第一章测量技术基础1

1.1.1 测量过程1

1.1测量误差理论1

1.1.2测量值的数学期望和方差2

1.1.3随机误差的统计处理3

1.1.4标准偏差的传递6

1.1.5有限次测量的算术平均值及其方差6

1.1.6测量结果的置信概率7

1.1.7异常数据的剔除7

1.1.8测量不确定度的表征方法8

1.2测量信息论基础10

1.2.1测量信息论的原理11

1.2.2用误差熵计算不确定度13

1.2.3采用最大信息熵原理估计误差概率分布14

1.3测量过程的统计控制17

1.3.1基本概念17

1.3.2测量过程的统计控制参数17

1.3.3测量过程统计控制的检验方法18

1.4校准方法学20

1.4.1 校准方法20

1.4.2计量标准21

1.4.4校准的要求23

1.4.3校准类型23

1.4.5互检和检验24

1.4.7对校准标准的要求25

1.4.6仪器特性和校准测试25

1.5基本的电子标准26

1.5.1国际测量单位制27

1.5.2标准的可溯源性31

第二章测试仪器平台32

2.1 测试仪器平台的基本结构32

2.1.1 基本概念32

2.1.2测试仪器的信息流程33

2.1.3测试仪器平台的结构36

2.2.1传感器的通用结构37

2.2传感器37

2.2.2传感器的分类及转换原理38

2.2.3传感器的主要技术指标43

2.3.1模数转换器的基本概念44

2.3模数转换器44

2.3.2模数转换器的静态误差和测试48

2.3.3模数转换器的动态误差和测试51

2.4.1基本概念57

2.4测试信号的处理57

2.4.2傅里叶变换59

2.4.3离散傅里叶变换59

2.4.4窗口化62

2.4.5模拟滤波器65

2.4.6数字滤波器68

2.4.7混频73

2.4.8检波和解调技术74

2.4.9衰减和放大75

2.4.10测试结果的类型77

2.4.11信号处理硬件83

2.5.1微处理器在仪器中的作用84

2.5测试仪器中的微处理器84

2.5.2微处理器在仪器中的工作85

2.5.3测试仪器的硬件结构86

2.5.4仪器软件的编程88

2.5.5仪器固件的开发89

4.1.3任意波形合成器 189

2.5.6人机界面90

2.5.7校准和误差修正91

第三章基本电参量测量92

3.1.1 引言92

3.1.2数字多用表92

3.1 电压、电流和电阻测量仪器92

3.1.3直流电压测量技术93

3.1.4交流电压测量技术95

3.1.5电流测量技术98

3.1.6电阻测量技术100

3.1.7测量误差源102

3.1.8电压表的技术指标111

3.2示波器114

3.2.1引言114

3.2.2 通用示波器115

3.2.3垂直放大器117

3.2.4水平控制（时基）与触发125

3.2.5模拟示波器132

3.2.6数字示波器141

3.2.7示波器的探头153

3.3.2基本的功率定义157

3.3功率测量157

3.3.1概述157

3.3.3传送类功率测量159

3.3.4接收类功率测量160

3.3.5热敏电阻传感器及相应功率计161

3.3.6热偶式功率计163

3.3.7二极管功率传感器164

3.3.9多反射的影响166

3.3.8峰值功率测量166

3.3.1 0指标167

3.3.1 1校准168

4.1信号源169

4.1.1信号的表征与生成方法？169

第四章信号的产生与分析169

4.1.2通用信号发生器177

4.1.4微波信号的生成方法200

4.2固态微波信号源200

4.3频谱分析仪222

4.3.1概述222

4.3.2频谱仪的工作特性227

4.3.3现代频谱分析仪的设计234

4.3.4频谱仪的附件240

4.4.1 为什么需要测量相位噪声240

4.4相位噪声测量与仪器？240

4.4.3相位噪声的时域测量方法242

4.4.4相位噪声的频域测量法243

4.4.5相位噪声的测量与分析246

4.4.6微波信号源相位噪声的测量252

4.4.7各种相位噪声测试系统测试灵敏度的对比254

5.1概述256

5.1.1时间与频率的数字化测量256

第五章时间与频率测量256

5.1.2时间与频率测量仪器257

5.2.1基本计数器260

5.2电子计数器的原理与组成260

5.2.3连续计数器263

5.2.4微波计数器264

5.2.5脉冲微波计数器266

5.3电子计数器的主要技术特性266

5.3.1通用计数器的技术特性266

5.3.2微波计数器的技术特性273

5.4.1概述275

5.4 时间与频率间隔分析仪275

5.4.2原理与组成276

5.4.3主要技术特性278

5.4.4 FTIA的应用279

5.5 寸间与频率标准282

5.5.1概述282

5.5.2石英晶体振荡器283

5.5.3原子频率标准285

5.5.4铯CS133原子频标286

5.5.5铷泡原子频标287

5.5.6氢频率标准和氢脉泽290

第六章电路元器件的测试292

6.1 阻抗测试的原理及仪器292

6.1.1 阻抗测试技术和误差分析292

6.1.2连接和隔离297

6.1.3阻抗测试仪器（RLC）300

6.2.1曲线记录仪312

6.2半导体测试312

6.2.2源监控器（SMU）317

6.2.3数字插头电子（PE）仪器323

6.2.4半导体测试系统327

6.3网络分析仪329

6.3.1 网络特性329

6.3.2网络分析系统和精度分析331

6.3.3标量网络分析仪336

6.3.4矢量网络分析仪340

6.4微波无源器件344

6.4.1 同轴传输线及同轴无缘器件344

6.4.2平行平面传输线及平行平面无源器件351

6.4.3波导及波导无源器件357

7.1.1光信号源370

7.1光信号的产生及分析370

第七章光电子测试370

7.1.2光功率计373

7.1.3光信号分析仪375

7.1.4光谱分析仪376

7.1.5光波偏振分析仪377

7.2光学元件分析仪379

7.2.1调制域元件分析仪379

7.2.2波长域元件分析仪380

7.2.3基于反射的元件分析仪381

7.3 光学时域反射计383

7.3.1光学时域反射计原理383

7.3.2 光学时域反射计的技术指标384

7.3.3 光学时域反射计的应用385

第八章数据域测试386

8.1数据域测试的概念386

8.1.1数据域测试的重要性386

8.1.2数据域测试的基本理论及方法简述387

8.2.1数字信号发生器的作用390

8.2数字信号发生器390

8.2.2数字信号发生器的结构391

8.2.3数据的产生392

8.2.4数据流的特征392

8.2.5数字信号发生器的主要技术指标396

8.3逻辑分析仪400

8.3.1逻辑分析仪的基本组成400

8.3.2数据的捕获与触发跟踪401

8.3.3数据流的高速存储404

8.3.4 数据的建立时间和保持时间406

8.3.5数据的显示406

8.3.6逻辑分析仪的主要特点及技术指标408

8.3.7数字测试系统409

8.4.1 概述411

8.4规约分析仪411

8.4.2通信规约的结构412

8.4.3 通信规约举例413

8.4.4基本结构及操作416

8.4.5规约分析仪的性能指标418

8.5.1基本概念421

8.5误码率测试仪421

8.5.2误码源422

8.5.3误码测量423

8.5.4误码率测试仪的结构431

8.5.5误码率测试仪的技术指标435

8.6可测性设计439

8.6.1可测性的测度439

8.6.2可测性的改善设计440

8.6.3结构可测性设计440

第九章计算机辅助测试（CAT）平台448

9.1.1 CAT平台448

9.1 基本概念448

9.1.2 CAT平台的基本结构449

9.1.3程控仪器及接口449

9.1.4 CAT控制器452

9.1.5软件系统453

9.2 GPIB接口455

9.2.1 GPIB的发展历史455

9.2.2 GPTB系统的基本结构457

9.2.3 GPIB总线信号459

9.2.4 GPIB接口功能462

9.2.5 GPIB总线接口消息463

9.2.6电气与机械特性466

9.2.7 GPIB控制器468

9.2.8 GPIB测试编程语言476

9.3.1模块化仪器的标准化485

9.3 VXIbus系统485

9.3.2机械结构486

9.3.3 VXI总线信号487

9.3.4 VXT器件491

9.3.5 VXI总线系统的通信协议494

9.3.6 VXI测试系统497

9.4仪器的程控505

9.4.1器件数据的标准化505

9.4.2 IEEE488.2标准506

9.4.3可程控仪器标准命令SCPI517

9.5 CAT平台523

951 虚拟仪器523

9.5.2仪器驱动器527

95.3可视化测试编程环境531

9.5.4开关器件538

9.5.6 CAT平台实例545

习题和思考题547

第一章习题和思考题547

第二章习题和思考题547

第三章习题和思考题548

第四章习题和思考题549

第五章习题和思考题550

第六章习题和思考题550

第七章习题和思考题550

第八章习题和思考题551

第九章习题与思考题551

参考文献553