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第一章 测试与容错的基本知识1

§1-1 诊断与容错技术的产生及发展1

§1-2 测试技术概述2

一、测试的一般模型2

二、故障与故障模型3

三、故障的检测与诊断6

四、测试费用分析6

§1-3 容错技术概述8

一、可靠性概念8

二、基本容错技术9

三、容错技术在高可靠系统设计中的应用9

参考文献10

习题11

第二章 组合电路测试13

§2-1 组合逻辑电路简介13

§2-2 跟踪敏化通路的测试生成方法13

一、单通路敏化法14

二、D算法15

三、九值算法22

四、PODEM算法24

五、FAN算法30

六、临界通路法35

§2-3 产生测试的代数方法36

一、布尔差分法36

二、主路径敏化法40

一、波格(paoge)法43

§2-4 跟踪信号通路的测试生成方法43

二、全通路图法45

§2-5 故障的精简46

一、用故障的等价性进行故障归类46

二、用故障之间的强于关系精简故障47

三、校验点47

§2-6 故障模拟48

一、故障模拟的作用48

二、模拟程序49

三、并行故障模拟52

四、同时故障模拟52

五、替代故障模拟的方法54

六、故障模拟用于随机测试生成55

§2-7 故障字典56

一、故障诊断集56

二、故障字典56

§2-8 测试响应的压缩58

一、转移计数测试59

二、特征分析技术59

参考文献62

习题63

第三章 时序电路测试65

§3-1 时序电路简介65

§3-2 时序电路测试中的问题66

一、初始化问题66

三、冒险的影响67

二、振荡问题67

§3-3 同步时序电路的测试生成法68

一、组合化模型68

二、用D算法求测试之例68

三、D算法的扩展69

§3-4 异步时序电路的测试生成法71

一、组合化模型71

二、反馈线的识别72

三、测试生成之例74

§3-5 自动机的识别法75

一、同步序列75

二、区分序列76

四、核实序列77

三、引导序列77

参考文献78

习题79

第四章 部件测试80

§4-1 功能测试概述80

§4-2 模块级的功能测试81

一、基本功能块的测试81

二、故障影响的传播与线确认82

三、功能测试的代数方法83

§4-3 重复逻辑阵列的测试84

一、一维重复逻辑阵列的测试85

二、树型结构的测试89

二、RAM的功能测试方法90

一、RAM的功能故障模型90

§4-4 随机访问存储器(RAM)的功能测试90

§4-5 微处理器的功能测试92

一、抽象执行图的方法93

二、系统图的方法98

参考文献103

习题104

第五章 可测试性设计106

§5-1 可测试性分析106

一、可测试性分析的意义106

二、可测试性测度的定义106

三、可测试性测度的计算107

四、一种更精确的可测试性测度110

一、特定的方法111

§5-2 易测试设计方法111

二、结构设计的方法112

§5-8 自测试121

一、微处理器自激励测试121

二、BILBO结构121

三、内部验证测试123

四、外加奇存器自测试126

参考文献126

习题127

第六章 系统级诊断129

§6-1 基本概念129

一、计算机系统的自诊断129

二、基本定义131

§6-2 PMC模型的一步系统诊断131

一、可诊断性的特征132

二、诊断算法134

三、最佳设计136

§6-3 系统诊断的发展137

一、诊断目标的发展137

二、模型的发展139

三、状态值的发展141

四、诊断方法的发展142

五、各种发展的综合模型143

§6-4 系统诊断的应用143

一、模拟电路的诊断143

二、容错计算146

三、社会诊断146

参考文献147

习题149

第七章 差错控制码151

§7-1 引言151

一、差错控利码的概念151

二、差错模型152

三、译码原则152

四、差错控制的策略153

§7-2 代数基础153

一、群153

二、有限域154

三、多项式154

四、有限域的表示156

一、基本定义158

§7-3 奇偶校验码158

五、向量空间158

二、检单错奇偶校验码162

三、海明码162

四、SEC/DED码164

五、乘积码164

六、b邻接码166

§7-4 循环码167

一、循环码的结构168

二、循环码的编码和译码170

三、截短码172

四、BCH码172

§7-5 算术码175

一、算术差错模型175

二、算术码及其分类176

§7-6 其它码177

一、校验和码177

二、m出自n码178

参考文献179

习题179

第八章 容错技术182

§8-1 故障检测技术182

一、基本定义182

二、完全自校验电路184

三、完全自校验网络185

四、部分自校验电路及网络188

五、其它检测技术189

一、自校正逻辑190

§8-2 故障屏蔽技术190

二、N倍冗余(NMR)系统191

三、门级屏蔽逻辑194

四、线路级的屏蔽逻辑197

§8-3 混合冗余技术198

一、可重组的二倍冗余199

二、NMR后援技术199

三、NMR自适应表决技术200

四、NMR比较技术201

五、恢复技术203

参考文献204

习题205

一、定数参数206

二、概率函数参数206

§9-1 可靠性参数206

第九章 系统可靠性评价技术206

三、投影参数207

四、比较参数208

§9-2 组合模型209

一、串/并联系统209

二、NMR表决系统209

三、NMR后援系统210

§9-3 网络模型211

一、方块图211

二、系统的方块图212

三、系统的可靠性213

一、状态图214

§9-4 马尔柯夫模型214

二、状态方程215

三、状态方程的求解216

四、状态图的简化217

五、典型系统的可靠性计算218

参考文献221

习题221

第十章 容错系统设计223

§10-1 设计方法论223

一、确立系统的可靠性目标223

二、设计故障处理机构223

§10-2 SIFT计算机设计225

一、可靠性目标225

三、系统评价225

二、系统设计226

三、可靠性评价228

§10-3 Intel 432系统设计228

一、设计目标228

二、系统设计228

三、系统评价230

§10-4 Stratus系统设计230

一、设计目标230

二、系统设计230

小结231

参考文献232

习题232